真空檢漏
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利用氦氣進(jìn)行密封性能檢驗(yàn)--是否密封,一測便知
為了能夠準(zhǔn)確地確定泄漏點(diǎn)的位置,把被檢測的內(nèi)腔抽成真空,沖入氦氣,施以高壓。經(jīng)過一段時間之后,就可以看到泄漏處薄膜下積存有氦氣了。
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正壓漏孔校準(zhǔn)裝置
正壓漏孔校準(zhǔn)裝置是校準(zhǔn)氣體漏率的計量標(biāo)準(zhǔn),可采用定容法和定量氣體動態(tài)比較法對正壓漏孔進(jìn)行校準(zhǔn).
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防爆型氫氮質(zhì)譜檢漏儀的開發(fā)及其應(yīng)用
探討在原氮質(zhì)語檢漏儀基拙上開發(fā)防爆型氫氦質(zhì)譜檢漏儀的兩大技術(shù)難點(diǎn),為克服這些技術(shù)難點(diǎn)在開發(fā)設(shè)計中采取的具體方案,以及此種非標(biāo)型檢漏儀主要廣泛應(yīng)用于爆炸性氣體環(huán)瑰中氮?dú)夂偷獨(dú)饨橘|(zhì)的檢漏。
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正壓漏孔校準(zhǔn)裝置的優(yōu)化設(shè)計
針對目前正壓漏孔校準(zhǔn)工作中存在的測量下限指標(biāo)低、測量不確定度大等問題,提出了正壓漏孔校準(zhǔn)裝置的優(yōu)化設(shè)計方法。
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氦質(zhì)譜檢漏法在PET熱態(tài)真空測試中的應(yīng)用
闡述了氦檢漏在PET熱態(tài)真空測試中的作用、氦檢儀的工作原理、氦檢儀的使用方法和氦檢漏的具體實(shí)施步驟,并根據(jù)應(yīng)用進(jìn)行了經(jīng)驗(yàn)總結(jié),提出了注意事項。
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密封法蘭氦質(zhì)譜檢漏技術(shù)
改進(jìn)并設(shè)計加工了法蘭檢漏專用吸槍和噴槍。研究和提出了充壓真空法與氦罩法對法蘭整體檢漏的方法,利用法蘭多道密封結(jié)構(gòu)形成的環(huán)狀空腔作為檢漏真空室,進(jìn)一步提高了法蘭檢漏的靈敏度與可靠性。
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集成電路外殼的噴吹法檢漏淺析
集成電路外殼漏率檢測的主要依據(jù)是GJB 548A - 96的1014實(shí)驗(yàn)程序。該實(shí)驗(yàn)程序中明確規(guī)定未經(jīng)密封的外殼應(yīng)采用噴吹法檢漏。
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固定流導(dǎo)法校準(zhǔn)真空漏孔方法研究
固定流導(dǎo)法采用的是分壓力側(cè)量技術(shù),對質(zhì)譜分析室的漏放氣率的指標(biāo)要求不高。通過實(shí)驗(yàn)得到四極質(zhì)譜計的非線性引起的側(cè)量誤差可達(dá)38%,在具體校準(zhǔn)過程中能夠很好調(diào)節(jié)穩(wěn)壓室中的氣體壓力,使通過小孔的氣體流量與待校
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真空漏孔的校準(zhǔn)方法——比較法
真空漏孔的校準(zhǔn)方法——比較法校準(zhǔn)真空漏孔時,要將從真空漏孔流出的氣體產(chǎn)生的效應(yīng)與參考標(biāo)準(zhǔn)相比。為避免測量儀器的非線性和漂移帶來的誤差,參考標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)與真空漏孔的值盡可能接近。
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