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真空設(shè)備檢漏及探傷

分析傳統(tǒng)的和最新的真空設(shè)備檢測(cè)技術(shù)和手段，根據(jù)實(shí)際使用情況，給出一些方便快捷的選擇合適的檢測(cè)手段和儀器的建議。

ITER 體總體氣密性檢測(cè)系統(tǒng)的真空抽氣與漏率標(biāo)定

介紹ITER導(dǎo)體總體檢漏系統(tǒng)布置，對(duì)檢漏系統(tǒng)的粗真空抽氣時(shí)間和高真空抽氣時(shí)間進(jìn)行具體計(jì)算，并對(duì)檢漏系統(tǒng)進(jìn)行標(biāo)定實(shí)驗(yàn)。

ITER導(dǎo)體總體氣密性檢測(cè)系統(tǒng)的檢漏系統(tǒng)運(yùn)行及標(biāo)定

本文介紹了ITER導(dǎo)體總體氣密性檢測(cè)系統(tǒng)的檢漏系統(tǒng)的配置、常規(guī)檢漏方法以及系統(tǒng)漏率的標(biāo)定。

ITER導(dǎo)體總體氣密性檢測(cè)系統(tǒng)的真空抽氣系統(tǒng)及運(yùn)行流程

ITER導(dǎo)體總體氣密性檢測(cè)系統(tǒng)的真空抽氣過(guò)程包括粗抽階段和主抽階段，本文主要了真空抽氣系統(tǒng)及抽氣運(yùn)行時(shí)間等運(yùn)行流程。

ITER導(dǎo)體總體氣密性檢測(cè)系統(tǒng)介紹

ITER導(dǎo)體總體檢漏系統(tǒng)主要分為抽氣系統(tǒng)與檢測(cè)系統(tǒng)兩部分。

正壓漏孔校準(zhǔn)技術(shù)的發(fā)展概況

介紹了國(guó)內(nèi)外正壓漏孔校準(zhǔn)技術(shù)的研究概況，對(duì)校準(zhǔn)裝置的原理和組成進(jìn)行了詳細(xì)說(shuō)明，對(duì)采用的校準(zhǔn)方法進(jìn)行了分析和討論。

正壓漏孔校準(zhǔn)技術(shù)國(guó)內(nèi)研究狀況

介紹了中國(guó)計(jì)量院(NIM)、上海計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所、清華大學(xué)、航天科技集團(tuán)一院蘭州物理研究所(LIP)等國(guó)內(nèi)正壓漏孔校準(zhǔn)技術(shù)的研究概況。

正壓漏孔校準(zhǔn)技術(shù)國(guó)外研究狀況

介紹了德國(guó)物理技術(shù)研究院(PTB)、瑞士BALZERS 公司、美國(guó)材料與測(cè)試學(xué)會(huì)(ASTM)和歐洲標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)(ECS) 等國(guó)外正壓漏孔校準(zhǔn)技術(shù)的研究概況。

氦質(zhì)譜檢漏儀無(wú)線遙控器

基于微功率無(wú)線傳輸技術(shù)設(shè)計(jì)的檢漏儀無(wú)線遙控器，實(shí)現(xiàn)了檢漏儀遠(yuǎn)程無(wú)線控制的功能。

微流量型空氣泄漏測(cè)試儀的校準(zhǔn)方法

本文對(duì)微流量型空氣泄漏測(cè)試儀的校準(zhǔn)方法進(jìn)行了研究，其校準(zhǔn)分為充氣壓力的校準(zhǔn)和泄漏量的校準(zhǔn)兩個(gè)部分。

氣體絕緣全封閉組合電器SF6泄漏故障分析及排除

SF6 絕緣氣體泄漏故障就是GIS 的致命缺陷之一，對(duì)這類故障的分析，可為該類故障的排除提供理論依據(jù)。

大型空間環(huán)境模擬器熱沉泄漏定位方式研究

本文針對(duì)大型環(huán)境模擬器熱沉泄漏的定位方式進(jìn)行研究，得出了在熱沉泄漏早期及時(shí)發(fā)現(xiàn)泄漏部位的方法，并將其應(yīng)用在KM6 空間環(huán)境模擬器上，且取得了良好的效果。

球頭錐面密封結(jié)構(gòu)的應(yīng)用要求

本文對(duì)航天系統(tǒng)常用的球頭錐面密封結(jié)構(gòu)的實(shí)際應(yīng)用進(jìn)行測(cè)試和要求，測(cè)試過(guò)程中采用氦質(zhì)譜吸槍檢漏方法。

氦質(zhì)譜檢漏儀用于電磁閥檢漏、直通閥檢漏

伯東公司德國(guó)Pfeiffer HLT 560 氦質(zhì)譜檢漏儀用于電磁閥閥芯檢漏應(yīng)用案例

載人航天氣艙外氣體泄漏狀態(tài)仿真分析

本文主要采用計(jì)算力學(xué)仿真和蒙特卡洛仿真的方法，實(shí)現(xiàn)了載人航天器在軌泄漏氣體在航天器表面分布狀態(tài)的模擬，獲得了不同漏率大小的艙外氣體泄漏狀態(tài)分布規(guī)律。

氦質(zhì)譜細(xì)檢漏的基本判據(jù)和最長(zhǎng)候檢時(shí)間

以氦氣交換時(shí)間常數(shù)τHe 為主要變量，以嚴(yán)密等級(jí)τHe, min 為基本判據(jù)，從而簡(jiǎn)化了壓氦法和預(yù)充氦法測(cè)量漏率公式，便于均衡不同內(nèi)腔體積時(shí)的可靠貯存時(shí)間。

密封器件壓氦和預(yù)充氦細(xì)檢漏判定漏率合格的條件

密封器件的氦質(zhì)譜細(xì)檢漏技術(shù)分壓氦法(即背壓法)和預(yù)充氦法兩種。

密封器件氦質(zhì)譜細(xì)檢漏的等效標(biāo)準(zhǔn)漏率上限

密封器件氦質(zhì)譜細(xì)檢漏技術(shù)所對(duì)應(yīng)的氣流狀態(tài)為分子流。目前好的粗檢法可以檢出100 Pa×cm3/s 或更小的漏率。

密封器件壓氦和預(yù)充氦細(xì)檢漏候檢環(huán)境氦分壓的影響

氦質(zhì)譜大氣累積檢漏法不確定度初步分析

詳細(xì)介紹了氦質(zhì)譜大氣累積檢漏法的基本原理。