溫度變化對(duì)正壓漏孔校準(zhǔn)裝置本底漏率的影響實(shí)驗(yàn)研究

馮焱，張瑞芳，盛學(xué)民，董猛

(蘭州空間技術(shù)物理研究所，甘肅 蘭州 730000)

　　摘要：在實(shí)驗(yàn)室條件下，由于溫度變化引起正壓漏孔校準(zhǔn)裝置本底漏率的變化是影響正壓漏孔校準(zhǔn)下限的主要因素，因此為盡可能減小溫度對(duì)正壓漏孔校準(zhǔn)的影響，采用水浴恒溫技術(shù)，利用主動(dòng)恒溫與被動(dòng)恒溫相結(jié)合的方式進(jìn)行恒溫。

　　實(shí)驗(yàn)證明，在未采取恒溫措施的情況下，正壓漏孔校準(zhǔn)裝置的本底漏率為10^-8 Pa •m³/s 量級(jí)，而在采用恒溫措施后，本底漏率下降到10^-9 Pa •m³/s 量級(jí)，且從實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)偏差可以看出采取恒溫措施后的本底漏率穩(wěn)定性更好。測(cè)量本底漏率后，采用壓力鋸齒波動(dòng)恒壓法對(duì)一支標(biāo)稱漏率為10^-8 Pa •m³/s 的正壓漏孔進(jìn)行校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)。

　　經(jīng)過(guò)多次實(shí)驗(yàn)證明，采取恒溫措施后，實(shí)現(xiàn)了正壓漏孔最小漏率為2.667×10^-8 Pa •m³/s 的校準(zhǔn)。

　　關(guān)鍵詞：正壓漏孔; 恒溫實(shí)驗(yàn);水浴恒溫;本底漏率