退火溫度對(duì)CuGa0.8Ge0.2Se2薄膜結(jié)構(gòu)及光學(xué)特性的影響

2015-03-23 肖玲玲 內(nèi)蒙古大學(xué)物理科學(xué)與技術(shù)學(xué)院

  采用脈沖激光沉積法在SiO2襯底上制備了CuGa0.8Ge0.2 Se2薄膜。采用X 射線衍射和X 射線能譜儀研究了退火溫度對(duì)薄膜晶體結(jié)構(gòu)和成分的影響,利用掃描電子顯微鏡表征了薄膜的表面形貌,采用紫外—可見(jiàn)分光光度計(jì)分析了薄膜的光學(xué)特性。結(jié)果表明,在CuGaSe2中摻雜Ⅳ族元素Ge,光子吸收能量分別為0.65 和0.92 eV,禁帶寬度為1.57 eV,能夠形成中間帶。并隨著退火溫度的升高,CuGa0.8Ge0.2 Se2薄膜的光學(xué)帶隙逐漸減小。

  中間帶太陽(yáng)能電池是很有潛力的太陽(yáng)能電池之一,其理論效率最高能達(dá)到63.2%,這高于單節(jié)太陽(yáng)能電池的極限效率40.7%,也高于兩節(jié)疊層太陽(yáng)能電池的極限效率55.4%。目前實(shí)現(xiàn)中間帶材料有三種方法:即量子點(diǎn)中間帶電池、雜質(zhì)帶電池、高失配合金,其中,利用雜質(zhì)摻雜形成中間帶的方法簡(jiǎn)單、有效。由于銅基化合物合金的帶隙非常接近中間帶材料理想禁帶寬度,且載流子的壽命也較長(zhǎng),使之成為當(dāng)前雜質(zhì)帶電池研究的熱點(diǎn)。

  2010年Tablero的理論研究發(fā)現(xiàn),第Ⅳ族元素部分替代CuGaX2( X = S、Se) 中的Ga 或Cu 可形成中間帶,轉(zhuǎn)換效率可能達(dá)到半導(dǎo)體光伏理論的極限效率。2013年,Yong 等報(bào)道了第四族元素Sn 摻雜的GuMS2( M = In,Ga) 納米顆粒薄膜,通過(guò)漫反射光譜與發(fā)光譜的結(jié)果證實(shí)了中間帶的存在。盡管人們對(duì)銅基化合物CuGaSe2摻雜形成中間帶做了許多研究,但是制備中間帶的工藝研究較少。本文采用脈沖激光沉積(PLD) 方法,將Ⅳ族元素Ge 摻雜在CuGaSe2中,在鈉鈣玻璃上沉積一定厚度的納米薄膜,采用X 射線衍射(XRD) 研究了退火溫度對(duì)薄膜晶體結(jié)構(gòu)和成分的影響,掃描電鏡(SEM) 表征了薄膜的表面形貌,采用紫外-可見(jiàn)分光光度計(jì)分析了薄膜的光學(xué)特性。

1、實(shí)驗(yàn)

  本實(shí)驗(yàn)采用中科院沈陽(yáng)科學(xué)儀器廠生產(chǎn)的PLD-450 型脈沖激光濺射儀,美國(guó)相干公司(Coherent Inc. )生產(chǎn)的COMPexPro201 脈沖準(zhǔn)分子激光器,工作電壓為18 ~27 kV,能量為250 ~700 mJ/脈沖;靶材采用高純CuGa0. 8Ge0. 2Se2靶材( 純度99.999%) 。

  將靶材和鈉鈣玻璃襯底固定在相應(yīng)的樣品架上,襯底和靶材的距離為5 cm,襯底溫度為500℃,系統(tǒng)真空度為6.7 × 10 -5 Pa,激光器工作模式為恒壓26 kV,激光能量在250 ~350 mJ,頻率為10 Hz。每次更換靶材后,需用擋板擋住襯底,濺射1000 個(gè)脈沖,以去除靶材表面氧化層和其它雜質(zhì),然后打開(kāi)擋板,此時(shí)靶材開(kāi)始消熔,通過(guò)調(diào)節(jié)激光的能量以及脈沖次數(shù)來(lái)控制薄膜的厚度。制備樣品退火條件為:氬氣保護(hù)下,溫度分別為400,500,600℃下熱處理30 min。

  物相結(jié)構(gòu)分析采用XRD( 德國(guó)BRUKDR,D8-ADVANCE 型) 分析,測(cè)試條件為Cukα 輻射,λ =0.154187 nm,電壓40.0 kV,電流50 mA,掃描速率10°/min,掃描范圍2θ:20° ~80°,通過(guò)與標(biāo)準(zhǔn)PDF卡片對(duì)照得到樣品的物相;薄膜表面觀測(cè)采用掃描電子顯微鏡( S-3400 型,日立牌);薄膜透過(guò)及反射率測(cè)試采用紫外—可見(jiàn)分光光度計(jì)(PerkinElmer 公司,Lambda750S);薄膜成分分析采用EDS。

3、結(jié)論

  (1) 利用PLD 制備CuGa0.8Ge0.2Se2薄膜,退火溫度為600℃時(shí),(112) 擇優(yōu)取向最明顯。隨著退火溫度的升高,CuGa0.8Ge0.2Se2薄膜平均晶粒尺寸逐漸增大,光學(xué)帶隙逐漸變小,其光學(xué)帶隙分別為1.6,1.58 和1.57 eV。

  (2) CuGa0.8Ge0.2Se2中摻雜Ⅳ族元素Ge后形成中間帶隙,價(jià)帶到中間帶的光子吸收能量為0.65eV,中間帶到導(dǎo)帶的光子吸收能量為0.92 eV,禁帶寬度為1.57 eV。