真空應(yīng)用
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PDP子場(chǎng)數(shù)據(jù)自適應(yīng)優(yōu)化低功耗尋址方法
為降低等離子體顯示器(PDP)的尋址功耗, 在分析PDP尋址功耗和圖像信息在各子場(chǎng)分布特征的基礎(chǔ)上, 根據(jù)人眼視覺(jué)在不同背景亮度下對(duì)圖像信息感知能力不同的特點(diǎn), 提出了子場(chǎng)數(shù)據(jù)自適應(yīng)優(yōu)化低功耗尋址方法。
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新型反射腔在多頻相對(duì)論返波振蕩器中的粒子模擬研究
設(shè)計(jì)了兩類(lèi)新型同軸反射腔并成功地應(yīng)用于多頻高功率微波輸出。反射腔采用非對(duì)稱(chēng)的同軸結(jié)構(gòu), 置于同軸相對(duì)論返波振蕩器( CRBWO) 慢波系統(tǒng)的前端。
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金屬離子源磁過(guò)濾器磁場(chǎng)位形的設(shè)計(jì)與實(shí)驗(yàn)研究
根據(jù)磁過(guò)濾器對(duì)磁場(chǎng)的要求, 利用水冷銅管產(chǎn)生的反向磁場(chǎng), 設(shè)計(jì)一個(gè)軸向磁場(chǎng)較弱的磁鏡式磁過(guò)濾器。
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35CrMo鋼表面化學(xué)氣相沉積多層硬質(zhì)涂層的結(jié)構(gòu)與性能研究
采用化學(xué)氣相沉積法在35CrMo鋼基表面制備多層硬質(zhì)涂 層,并測(cè)試分析了涂層的組成結(jié)構(gòu)、粗糙度和表面力學(xué)性能。
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以菱鎂石為原料鋁熱還原煉鎂的實(shí)驗(yàn)研究
對(duì)以菱鎂石為原料,以鋁粉為還原劑的真空熱還原煉鎂技術(shù)進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)研究,通過(guò)熱力學(xué)分析和對(duì)還原渣的物相分析,對(duì)鋁熱還原煅后菱鎂石的機(jī)理進(jìn)行了探討。
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基于分形理論的玻璃纖維真空絕熱熱工特性研究
基于分形理論,描述了玻璃纖維多孔介質(zhì)材料微尺度空間結(jié)構(gòu), 建立分形等效單元體模型,分析了影響其真空下有效導(dǎo)熱系數(shù)關(guān)鍵因素。
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SOI高g值壓阻式加速度傳感器與工藝實(shí)現(xiàn)
基于SOI技術(shù), 利用電感耦合等離子體硅深加工,設(shè)計(jì)制備了一種新型平面內(nèi)振動(dòng)高g值壓阻式加速度計(jì)。
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人工干預(yù)二次形核研究
采用直流熱陰極PCVD技術(shù),在CH4- H2 氣氛常規(guī)制備微米晶金剛石膜的參數(shù)條件下,通過(guò)人工干預(yù)實(shí)現(xiàn)二次形核,制備納米晶金剛石膜。
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Cu含量對(duì)脈沖偏壓電弧離子鍍TiN-Cu納米復(fù)合薄膜硬度的影響
用脈沖偏壓電弧離子鍍技術(shù)在高速鋼基體上制備了一系列不同Cu含量的TiN-Cu納米復(fù)合薄膜,分別測(cè)試了薄膜的成分、形貌、相組成、硬度和彈性模量,重點(diǎn)考察薄膜成分對(duì)其硬度和彈性模量的影響。
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真空離子鍍鉻合金厚膜替代電鍍硬鉻工藝研究
離子鍍鉻合金厚鍍膜代替電鍍硬鉻工藝研發(fā),已取得滿意成果,可以投入工業(yè)生產(chǎn),可以向社會(huì)提供技術(shù)及專(zhuān)用設(shè)備。
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高分子涂層制備技術(shù)研究進(jìn)展
本文綜述了高分子涂層的制備,發(fā)現(xiàn)其制備方法具有多樣性,但多在大氣環(huán)境中進(jìn)行,存在高溫分解、涂層內(nèi)應(yīng)力大和襯底結(jié)合力差等問(wèn)題。
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低壓壓印制備硅點(diǎn)陣結(jié)構(gòu)的工藝研究
本文介紹了一種以低壓壓印結(jié)合反應(yīng)離子刻蝕制備硅點(diǎn)陣的方法,即利用PDMS模板通過(guò)壓印復(fù)制獲得PMMA掩模結(jié)構(gòu),用反應(yīng)離子刻蝕在硅片表面制得高度有序的硅納米點(diǎn)陣結(jié)構(gòu)。
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ZSN-800AG2電子束蒸發(fā)鍍膜機(jī)程序化自動(dòng)控制系統(tǒng)的設(shè)計(jì)
本文對(duì)ZSN-800AG2電子束蒸發(fā)鍍膜機(jī)的控制系統(tǒng)進(jìn)行了設(shè)計(jì),重點(diǎn)對(duì)應(yīng)用iFix 組態(tài)軟件實(shí)現(xiàn)工藝過(guò)程用戶可編程序化的動(dòng)控制方法設(shè)計(jì)以及數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和趨勢(shì)曲線顯示等做了設(shè)計(jì)分析,完成了整 機(jī)的工藝試驗(yàn)。
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Si90Al10Nx薄膜的工藝控制及光學(xué)性能研究
通過(guò)改變磁控濺射過(guò)程中氬氣與氮?dú)獾姆謮罕龋苽淞硕喾N不同厚度的Si90Al10Nx薄膜樣品,并采用透射率輪廓法對(duì)樣品在熱處理前后的光學(xué)性能進(jìn)行了測(cè)量和分析。
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溫度對(duì)磁控濺射氮化鈦薄膜光學(xué)性能的影響
本文采用能量過(guò)濾磁控濺射技術(shù),通過(guò)改變沉積溫度在玻璃襯底上制備了一系列TiN 薄膜。利用XRD進(jìn)行了物相鑒定,使用分光光度計(jì)、橢圓偏振光譜儀和四探針電阻儀測(cè)試了TiN 薄膜的光學(xué)性能。
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光學(xué)加工中真空夾具設(shè)計(jì)及分析
為了在光學(xué)加工中快速、可靠地裝夾光學(xué)元件,設(shè)計(jì)了真空夾具,對(duì)該真空夾具引起光學(xué)元件變形量進(jìn)行了分析。
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真空熱還原氧化鎂的理論分析與實(shí)驗(yàn)研究
通過(guò)對(duì)C、S i 和Al熱還原MgO的熱力學(xué)計(jì)算, 分析了不同條件下熱還原吉布斯自由能和反應(yīng)初始溫度的變化。
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