在離子推力器研制過程中，柵極組件的束流引出效率對于離子推力器的性能評估具有重要意義，通常采用測量相關電流數據求得有效透明度的方法來間接反應。文章比對了兩種有效透明度的地面測量方法，并采用較優的方法對穩態工作下的離子推力器進行了有效透明度的地面測量。測試中通過加入偏置電源來抑制放電室中電子向柵極逃逸，結果更加接近實際值，并分析了有效透明度對放電過程的影響。

1、引言

　　離子推力器是電推進的一種，其特點是推力小，比沖高，廣泛應用于空間推進，如航天器姿態控制、位置保持、軌道機動和星際飛行等。其主要由空心陰極，放電室和柵極組件三部分組成，推進劑進入放電室后與空心陰極逸出的電子在放電室內磁場的作用下碰撞電離，產生的推進劑離子被柵極組件捕獲后，在柵間電場的加速下高速噴出產生推力。其中，柵極組件的束流引出效率對于評估放電室和柵極組件的優化設計具有重要意義。若知道單位時間內從柵極組件噴出的推進劑離子量與注入放電室內的推進劑總量間的比例關系，就能直接了解束流引出效率。在此基礎上提出了柵極組件的有效透明度的概念，反映了推力器放電室中推進劑的電離化率，柵極組件的聚焦能力。

　　1.1、離子透明度概述

　　其物理含義為單位時間內經由柵極組件離開放電室的Xe+數目與放電室內產生的Xe+ 總數的比值。顯然，該比值等效于電流比。由于柵極組件的靜電聚焦作用使得有效透明度Φα要高于屏柵的物理透明度ΦA(即柵孔面積占屏柵有效面積之比) 。在束流引出狀態下，一部分Xe 離子撞擊在屏柵上游表面后被中和，試驗中發現在屏柵和主陰極之間附加直流偏置電源可以在不改變放電電壓的情況下提高Xe+ 的束流密度，并阻止放電室內部電子向屏柵上游表面運動，因此可將屏柵上的碰撞電流看作偏置電壓的函數。圖1 給出了試驗測得的束流電流和偏置電壓的系曲線:

圖1 束電流與偏置電壓的關系曲線

　　1.2、離子透明度測量方法

　　在雙柵結構的離子推力器中，準確測量離子透明度對推力器的設計和性能評估很有意義。柵極組件的有效透明度可表示為束流電流Ib的函數，傳統上采用測量屏柵電流和加速柵電流來粗略估計透明度，如下式所示:

Φa = Ib/(Ib + Ia)(1)

　　上述方法未考慮放電室內部離子與屏柵間相互作用產生的碰撞電流Is，介紹了一種小幅修改20 cm 離子推力器主陰極機械連接方式和附加偏置電壓回路的有效透明度測量方法，該方法通過測量束流電流、屏柵碰撞電流和加速柵上電流求得離子透明度。

2、試驗流程及測量結果

　　2.1、試驗件概述

　　有效透明度測量試驗是在20 cm 口徑，Xe 推進劑離子推力器工程樣機上進行的，根據試驗需要，改裝了推力器內的機械結構和電氣絕緣組件。具體的改裝工作包括: 用大約8 mm 的陶瓷絕緣墊片將主陰極與屏柵安裝法蘭進行電隔離，從主陰極和柵極組件安裝法蘭各引出一條聚四氟乙烯導線，同時還應注意偏置電源的懸浮接地保護。

　　2.2、試驗設備及試驗方案

　　試驗在特種推進室TS-6 真空艙內進行，推力器工作狀態下，真空度達到8. 1×10-3 Pa，有效透明度測量電路簡易框圖如圖2 所示，在主陰極和屏柵之間加載高于設備10 ～ 25 V 的正偏壓，以阻止放電室等離子體中的電子撞在屏柵表面或逃逸出放電室，從而更精確地測量離子電流。由此可知，偏置回路的電流即為屏柵表面的離子碰撞電流，束電流即為柵極組件引出的離子電流，將兩者之和除束電流即得到推力器的有效透明度。

圖2 測試電路連接框圖

4、試驗結論及改進意見

　　4.1、結論

　　在地面試驗測量離子透明度時，將偏置電壓置于15 V 附近，得到的離子透明度值與放電損耗值更為適宜，可將該值作為偏置電壓法測量離子透明度的參考值。

　　在離子透明度和偏置電壓關系曲線上，當偏置電壓超過15 V 時，離子透明度有小幅度上升，但放電損耗急劇增加，存在個別的尖峰和不規則點，試驗過程中發現這些尖峰點多發生于屏柵與加速柵間產生間歇性打火前后，隨著試驗時間的增加，推力器工況趨于穩定，不規則點出現的頻率大為減小。

　　4.2、改進意見

　　由于本次試驗時間有限，試驗設備的真空度和離子推力器的工況均未達到最佳狀態，至少應等待柵間打火頻率大為減少或穩定后進行測量數據會更加準確有效。為防止柵間打火導致加速柵測量回路中的電流表損壞，可以嘗試利用二極管分流方法對電流表進行保護。后續試驗建議在15 V 的參考偏置電位下，通過改變放電電流和Xe 推進劑流率得到放電功率-離子透明度特性曲線、放電功率-中性原子特性曲線、流率-離子透明度特性曲線、推進劑利用率-放電損耗特性曲線，有益于進一步評測離子推力器的性能。