(1) 壓降檢漏法的靈敏度

        壓降法檢漏一般采用靜態(tài)測(cè)試, 這種靜態(tài)測(cè)試一般是在初始和終止檢漏的某個(gè)時(shí)間間隔進(jìn)行。測(cè)量的靈敏度主要和測(cè)試的間隔時(shí)間、測(cè)壓儀器的最小可檢壓力有關(guān)。如果不考慮溫度和出氣效應(yīng), 延長(zhǎng)檢漏初始到終止時(shí)測(cè)量時(shí)間, 就可以提高測(cè)試靈敏度。但是, 延長(zhǎng)檢漏時(shí)間, 就會(huì)增加檢漏周期, 一般在單件產(chǎn)品的試驗(yàn)生產(chǎn)中, 可容忍的檢漏時(shí)間是24～48 小時(shí)。壓力降檢漏中, 當(dāng)溫度和壓力測(cè)試的分辨率越高, 靈敏度越高, 則漏率測(cè)量也就越靈敏, 因此, 盡可能地選擇分辨率和精度較高的測(cè)溫計(jì)和壓力計(jì)。

(2) 濕度問(wèn)題

        在壓力降檢漏中, 被檢件一般都不進(jìn)行預(yù)先抽真空, 而是在大氣本底的基礎(chǔ)上充入檢漏氣體。檢漏氣體包含有水蒸汽。如果溫度低于露點(diǎn)溫度, 水蒸汽將凝結(jié)在固體表面, 這樣水蒸汽的壓力要從檢漏氣體的總壓力中剔除。當(dāng)溫度高于露點(diǎn)溫度, 被檢件中的水蒸汽將蒸發(fā)而增加被檢件空氣中的總壓力。水蒸汽的分壓力加上氣體的真實(shí)壓力構(gòu)成了壓力降檢漏過(guò)程中的總壓力。如果水蒸汽的分壓力在檢漏過(guò)程中保持不變。由于被檢件中的總壓力滿(mǎn)足理想氣體方程, 水蒸汽的分壓值可以剔除。然而, 當(dāng)溫度發(fā)生變化, 水蒸汽的凝結(jié)或蒸發(fā)對(duì)恒定體積被檢件中空氣的總壓力將發(fā)生較大的變化。如果不對(duì)水蒸汽產(chǎn)生的影響進(jìn)行校準(zhǔn), 壓降檢漏法將產(chǎn)生較大的偏差。

         在露點(diǎn)溫度時(shí), 空氣中水蒸汽的蒸發(fā)和凝結(jié)達(dá)到了平衡, 在壓力變化檢漏中, 通過(guò)露點(diǎn)傳感器測(cè)量露點(diǎn)溫度, 就可以得到水蒸汽的分壓力, 表1 中是常壓、常溫狀態(tài)下不同露點(diǎn)的水蒸汽壓力。1 ℃的露點(diǎn)溫度引起的被檢件中的壓力變化約幾百帕 。

        因此高靈敏度的壓降法檢漏中, 為了合理地計(jì)算漏率真值, 當(dāng)被檢件中的溫度低于露點(diǎn)溫度時(shí), 必須從總壓力中減去水蒸汽壓力: Pg =P-Pv,這樣降低偏差。